用示波器测晶体振荡器电路示波器测试头用50欧姆还是1兆欧的好

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示波器探头使用
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你可能喜欢示波器阻抗为什么一定是1M和50欧-射频/微波-与非网
这个1M&O是示波器的规范。而电容是我们并不想要但是又不可避免的寄生参数。在DC和较低频时,1M&O起到主导地位。而当频率超过10M以后,电容会成为 主要的负载。由于这两个参数的引入,就会使得测量时的信号与原信号有差异,从而使测量结果出现误差。那么差异有多大呢,这也要取决于您的被测电路的输出电 阻和负载。就按上图的例子来说。根据戴维宁定理,可变为:
可知原信号为; ;低频信号的差异主要是戴维宁输出电阻Re与1M&O的分压决定,而高频时,则需要再加上Re与16pF容抗的分压。
经计算可知,如果Re的值是10&O,而信号的频率是200M,则示波器的负载效应会造成-0.2db左右的偏差。而如果您系统的Re是25&O,那么这个偏差会达到-1db。如果是50&O呢,100&O呢,无疑误差会越来越大。
示波器为了使得测量更加准确,是必须在内部加一些补偿措施将这些偏差补偿回来的(当然这种补偿只是相对于测量结果与原信号而言的,内部补偿是无法减小测量 时信号与原信号之间的差异)。那具体应该按那种情况来补偿呢。前面我们已经知道,高速信号中,50&O系统是使用最广泛的,所以我们选择50&O系统即 Re=25&O的情况下进行补偿。示波器厂家都会在这种情况下将信号补偿的最好。所以如果您是50&O系统,示波器测量出的结果影响与原信号最为接近。
如果您的等效输出电阻与25&O相差很多且需要测量的频率较高,则需要评估测量误差是否在您允许的范围内。建议使用10:1探头进行测量,因为其寄生电容要 比示波器低,而1:1探头的负载电容基本上是50pF左右的,其负载效应比示波器本身要严重的多。如果10:1探头仍然不能满足您的需求,就要选择寄生电 容更小的有源探头进行测量了。
试想一下,如果用示波器直接与高频信号发生器相连,测量信号发生器输出的高频信号,而高频信号发生器的输出电阻都是50&O,那会发生什么情况呢。由上文可 知,负载相应会严重影响测量结果。再结合传输线理论,可知会有一个反射波反射回信号源,这对于一些精密的仪器这可能是致命的。所以这时候需要加入一个 50&O端接适配器或者使用内部50&O档位。这样既大大减小信号的反射,又可以使得测量出的信号受负载效应影响最小。这就是示波器50&O阻抗的作用了。
示波器测量与50&O相关的注意事项
结合传输线理论和示波器负载效应,说几点在示波器测量中与50&O有关的注意事项。当然,测量较低频率信号时不需要考虑这些。
1、当示波器使用50&O端接或者内部50&O档位时,只能够使用50&O同轴电缆或者一些要求做50&O匹配的有源探头。直接测量板载信号时则只能够使用有源探头,同轴电缆仅适用于测量无负载信号(如信号发生器)。
2、测量高频信号时,要注意示波器的负载效应。测量系统最好是50&O系统,再考虑到传输线理论,最好用探头直接测量负载端而不是中间的PCB。
3、在测量信号发生器输出波形时,需要进行50&O端接。否者测量结果将会受示波器负载效应影响严重。
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