为使测量准确应在测量场所对仪器進行校准。

一、 校准标准片（包括箔和基体）

已知厚度的箔或已知覆盖层厚度的试样均可作为校准标准片简称标准片。

⒉  有覆盖层的标准片

采用已知厚度的、均匀的、并与基体牢固结合的覆盖层作为标准片。对于本仪

器覆盖层应是非磁性的。

⒈  对于本仪器标准基体金属的磁性和表面粗糙度应当与待测试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。

为了证实标准片的适用性可用标准片的基体与待测试件基体上所测得的

⒉  如果待测试件的基体金属厚度没有超过参数表中所规定的临界厚度，可采鼡下面两种方法进行校准：

1)  在与待测试件的基体金属厚度相同的金属标准片上校准；

2)  用一足够厚度的电学或磁学性质相似的金属衬垫标准片或试件，但必须使基体金属与衬垫金属之间无间隙对两面有覆盖层的试件，不能采用衬垫法

⒊  如果待测覆盖层的曲率已达到不能茬平面上校准，则有覆盖层的标准片的曲率或置于校准箔下的基体金属的曲率应与试样的曲率相同。

本仪器有两种测量中使用的校准方法零点校准；二点校准；还有一种针对测

a． 在基体上进行一次测量，仪器显示＜×.×?m＞。