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浅谈上海半导体分立器件的发展
优质期刊推荐半导体分立器件的失效分析及预防措施--《中国测试》2012年06期
半导体分立器件的失效分析及预防措施
【摘要】：为研究过电应力对半导体分立器件可靠性的影响,以国产ZL20螺栓形整流二极管为例,建立整流二极管基本失效率模型,揭示半导体分立器件性能和可靠性的主要影响因素,提出预防半导体分立器件失效的措施。试验结果表明:给出的ZL20螺栓形整流二极管基本失效率模型反映了其失效规律,可以应用于工程实践。
【作者单位】：
【分类号】：TN313.5【正文快照】：
0引言随着电子技术的快速发展,功率器件呈现快速发展趋势。功率器件是指可以控制高达100A的电流或是1200V的电压而未发生损伤和毁坏的半导体分立器件,这些大功率半导体分立器件在新型飞机上得到了广泛的应用。然而,在飞机电源系统谐波、无功、不平衡、电压浪涌和尖峰电压等过
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