万用表测电容2种简单方法 万用表怎么测电容_知识频道_买购网
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摘要：万用表是我们在电子中使用最为频凡的一种电子元器件，但有不少人不知道万用表怎么测电容，下面我们介绍几种用万用表测电容方法。
万用表测电容2种简单方法 万用表怎么测电容
万用表是我们在电子中使用最为频凡的一种电子元器件，但有不少人不知道怎么去检测电容，下面我们介绍几种用万用表测试电容方法。电容器是一种最为常用的电子元件。电容器的通用文字符号为“C”。电容器主要由金属电极、介质层和电极引线组成，两电极是相互绝缘的。因此，它具有“隔直流通交流”的基本性能。
万用表测电容方法之使用电阻档
实践证明，利用数字万用表也可观察电容器的充电过程，这实际上是以离散的数字量反映充电电压的变化情况。设数字万用表的测量速率为n次/秒，则在观察电容器的充电过程中，每秒钟即可看到n个彼此独立且依次增大的读数。根据数字万用表的这一显示特点，可以检测电容器的好坏和估测电容量的大小。下面介绍的是使用数字万用表电阻档检测电容器的方法，对于未设置电容档的仪表很有实用价值。此方法适用于测量0.1μF～几千微法的大容量电容器。
将数字万用表拨至合适的电阻档，红表笔和黑表笔分别接触被测电容器Cx的两极，这时显示值将从“000”开始逐渐增加，直至显示溢出符号“1”。若始终显示“000”，说明电容器内部短路；若始终显示溢出，则可能时电容器内部极间开路，也可能时所选择的电阻档不合适。检查电解电容器时需要注意，红表笔（带正电）接电容器正极，黑表笔接电容器负极。
万用表测电容方法之使用电容档
某些数字万用表具有测量电容的功能，其量程分为2000p、20n、200n、2μ和20μ五档。测量时可将已放电的电容两引脚直接插入表板上的Cx插孔，选取适当的量程后就可读取显示数据。000p档，宜于测量小于2000pF的电容；20n档，宜于测量2000pF至20nF之间的电容；200n档，宜于测量20nF至200nF之间的电容；2μ档，宜于测量200nF至2μF之间的电容；20μ档，宜于测量2μF至20μF之间的电容。
经验证明，有些型号的数字万用表（例如DT890B＋）在测量50pF以下的小容量电容器时误差较大，测量20pF以下电容几乎没有参考价值。此时可采用串联法测量小值电容。方法是：先找一只220pF左右的电容，用数字万用表测出其实际容量C1,然后把待测小电容与之并联测出其总容量C2，则两者之差（C1－C2）即是待测小电容的容量。用此法测量1～20pF的小容量电容很准确。
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请坛子里搞测试技术的朋友们来分享下PF级电容的测试方法，主要是针对100PF以下，小电容的ICT测试方法。 目前30以上的电容，用ICT测试虽然误差会大一点，但基本上对错料、容值偏差比较大的能卡住。但是30PF以下的电容就测不准了，特别是10PF以下的电容，有时候连少件的也测不出来。。。 盼望路过的朋友们来说一说，分享下经验，谢谢！
ICT不能有效测PF级小电容是因为无法有效隔离电路的原因...，做过类似工业BB机的产品...中放之前多10PF以下、高放输入到了0.5PF都是NPO的轴向独石电容...，PF级电容只能厂家和自己的IQC把关...做个电容与已知电感并联测试电路、注入高频信号用示波器观察最大振幅来计算PF级电容的范围是否符合要求...原理也就一般中周测试方法吧...，除了IQC抽检外实际电路调试中也可以看调试参数处于两极端中间范围、分辨PF级电容质量...，呵呵。
:ICT不能有效测PF级小电容是因为无法有效隔离电路的原因...，做过类似工业BB机的产品...中放之前多10PF以下、高放输入到了0.5PF都是NPO的轴向独石电容...，PF级电容只能厂家和自己的IQC把关...做个电容与已知电感并联测试电路、注入高频信号用示波器观察最大振幅来计算PF级电容的范 .. ( 12:05) 这些小电容主要分布于RF耦合电路、MCU晶振脚的振荡电路，从几PF到10几PF的。 PCB线路间存在寄生电容，ICT治具、排线、探针之间也存在容抗，加起来小到几十PF，大到几百PF，远远大于电容的本身容值，10P以下的小电容几乎分辨不出来。 对于电容规格，SMT上料时对首件测试容值，类似抽测了，呵呵。就是想针对离散不良，在线测试。 若静态测试无法实现，考虑动态功能测电压、测频率，不知效果会怎样，呵呵。
RF的东西测试针极短其他地方都要屏蔽...测试连接电缆长度都要避开波长整倍数...所属FCT不可随意改变位置和方向...，你那pF电容是贴片、轴向、径向还是契型的啊...除了晶振还有没有电感配合啊...，呵呵。
:RF的东西测试针极短其他地方都要屏蔽...测试连接电缆长度都要避开波长整倍数...所属FCT不可随意改变位置和方向...，你那pF电容是贴片、轴向、径向还是契型的啊...除了晶振还有没有电感配合啊...，呵呵。 ( 23:25) 都是贴片电容，MCU晶振脚上悬挂两个12PF的电容。RF 板代工产品，板子上有1.5PF、6.8PF等...1.5PF漏件、翘角、虚焊都难测出，这个板子暂时又没有功能测试，不良品容易流入客户端。这不，客户要求我们想办法测容值，所以来这里求助了，呵呵。
RF的东西那几个10pF以下的电容工艺检查需要额外措施...，本体要对中PAD、端子只需要极少焊料即可所以要去掉多余的焊料、贴底间隙接近O...可专门安排工位有效实施措施（用凹形烙铁头@280～300C/1S）...，悬挂的电容引脚长度、焊接方向等都需要有严格控制范围...可以到客户方看实际FCT过程、拍照筛选样板生产中执行...，我们那个产品与外方反复沟通两个月后、不断改进现场工艺才入正轨的...，呵呵。
目前的高端测试机Agilent3070,Teradyne TSLH 等 也无法准确量测到20pf 以下的电容。&&杂讯干扰以及fixture 绕线本身也会电容杂讯
:RF的东西那几个10pF以下的电容工艺检查需要额外措施...，本体要对中PAD、端子只需要极少焊料即可所以要去掉多余的焊料、贴底间隙接近O...可专门安排工位有效实施措施（用凹形烙铁头@280～300C/1S）...，悬挂的电容引脚长度、焊接方向等都需要有严格控制范围...可以到客户方看实际F ..&( 13:21)&SMT贴片前设SPI，回流焊后设AIO，但还是有漏网之鱼。现在是设为检测盲点，出厂前的外观检验员（FQC）重点检查，但人工终究没那么可靠，稍有疏忽，不良的就跑出去了，呵呵。客户是模拟用户使用功能测试的，主要参考是量化指标：发谢功率、率偏、距离。如果复制客户的检测方法，设备成本和制造成本相差的不是一点，估计也谈不拢，呵呵~
:目前的高端测试机Agilent3070,Teradyne TSLH 等 也无法准确量测到20pf 以下的电容。&&杂讯干扰以及fixture 绕线本身也会电容杂讯&( 16:58)&呵呵，如此说来，静态测试小电容是业界一难题啦。。。是的啊，PCB、排线、治具、开关通道这些杂讯电容叠加起来已经很大了，几P小电容就像一滴水滴入小河，瞬间就淹没消失了，呵呵。
测是能测出来的、方法前面讲了厂家过程看过、只不过光频率计价格就可以了...，0.5pF什么概念...就两光线中间夹着空气就能得到一挪动又没了...最好让客户R/D更改设计利用PCB表面分布电容比较可靠些...，做RF产品很有趣、也不是人人都能做得好的...，呵呵。
:测是能测出来的、方法前面讲了厂家过程看过、只不过光频率计价格就可以了...，0.5pF什么概念...就两光线中间夹着空气就能得到一挪动又没了...最好让客户R/D更改设计利用PCB表面分布电容比较可靠些...，做RF产品很有趣、也不是人人都能做得好的...，呵呵。 ( 14:30) 哦，谢谢刘老师的指点。
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各位兄弟姐妹们,请帮下忙,哪位有关于线材行业线材电容的测试标准与方法的资料传给我下,我的Email是:,
最好能告之测试的标准与方法的出处,也就是说用的是哪里出的标准.谢了
什么线材/?shenmo..................
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